x-ray diffraction 原理
X光繞射(XRD)是一種多功能的非破壞性分析技術,可用於分析物理性質,如粉末、固體與液體樣品的相組成、晶體結構及方向。許多材料都是由微小晶粒所構成。這些晶體的化學 ...,由楊仲準著作—本文將由X光粉末多晶繞射分析技術出發,並藉由所獲得之晶體參數,介紹其延伸...
XRD專業定量分析軟體
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XRD繞射分析儀器(X-RayDiffractometer),為利用Bragg繞射和干涉原理,藉由X射線的波長和晶體內部原子之間的間距相近,作為X射線的空間繞射光柵,也就是當X射線照射到物體 ...
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